PCT高壓加速老化箱

PCT高壓加速老化箱又叫飽和蒸汽高壓壽命試驗(yàn)箱，英文名High Pressure Cooking Testing Chamber。用于評估電子元器件、PCB、芯片產(chǎn)品等在高溫，高濕，高氣壓條件下對環(huán)境的抵抗能力，通過加速其失效過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時間，提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品失效模式。

類別:

PCT加速老化試驗(yàn)箱

關(guān)鍵詞:

科訊精密儀器

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產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品規(guī)格: 滿足31~248L標(biāo)準(zhǔn)容積選型和非標(biāo)定制

產(chǎn)品介紹：PCT高壓加速老化箱又叫飽和蒸汽高壓壽命試驗(yàn)箱，英文名High Pressure Cooking Testing Chamber。用于評估電子元器件、PCB、芯片產(chǎn)品等在高溫，高濕，高氣壓條件下對環(huán)境的抵抗能力，通過加速其失效過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時間，提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品失效模式。

產(chǎn)品別名：PCT高溫高壓蒸煮儀，飽和穩(wěn)態(tài)濕熱老化箱，PCT飽和濕度加速壽命老化箱……

科訊PCT高壓加速老化箱：用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、飽和濕熱等加速壽命信賴性試驗(yàn)。

一，滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)室技術(shù)條件。

GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗(yàn)。

MIL-STD810D方法502.2。

GJB150.9-8溫濕試驗(yàn)。

GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗(yàn)。

JESD22-A102高壓蒸煮試驗(yàn)（加速抗?jié)裥詽B透）

二，應(yīng)用領(lǐng)域：

PCB，半導(dǎo)體，顯示面板，太陽能，磁性材料，高分子材料等格

PCT（飽和濕度）高壓加速老化箱
型號Model		KS-PCT-30L	KS-PCT-69L	KS-PCT-154L	KS-PCT-248L
容積（L）		31 L	69 L	154 L	248 L
內(nèi)箱尺寸（mm）	直徑φ	350	400	550	650
	深D	450	550	650	750
外箱尺寸（mm）	寬W	700	700	850	950
	深D	1000	1100	1150	1250
	高H	1710	1710	1760	1860
性能指標(biāo)	溫度范圍	+100~+145℃（飽和蒸汽溫度）
	濕度范圍	100%RH（飽和蒸氣濕度）
	壓力范圍	0.2~3kg/cm² (0.05~0.294Mpa)
	溫度均勻度	≤±2℃
	溫度波動度	≤±0.5℃
	濕度波動度	≤±2 % R.H
	濕度偏差	≤±3 % R.H
	溫度偏差	≤±2℃
	壓力偏差	≤±2Kpa
	加壓時間	約45min
	功率	2.2KW	2.5KW	3.5KW	4.5KW
箱體材質(zhì)	內(nèi)箱	SUS #316不銹鋼
	外箱	冷軋鋼板+雙面靜電噴塑工藝處理
	保溫	超細(xì)玻璃棉
噪音		≤60（dB）
控制器		7寸彩色觸摸屏控制器（帶壓力溫濕度，帶RS-485或RS-232通訊，USB烤數(shù)據(jù)）
分辨率		溫度：0.01℃；濕度：0.1%RH；壓力：0.1 kg/cm²；
BIAS偏壓端子		依據(jù)用戶需求定制
使用條件		環(huán)境溫度：+5℃~+35℃;環(huán)境濕度：≤85%RH；環(huán)境大氣壓要求：86KPa～106KPa
電源		AC220V 50/60Hz
保護(hù)裝置		1.超溫保護(hù)，2.風(fēng)機(jī)超載保護(hù)，3.箱門壓力保護(hù)，4.缺水保護(hù)，5.溢水保護(hù)，6.加熱器空焚保護(hù)， 7.加熱器超載保護(hù)，8.電源缺相保護(hù)，9.過電流保護(hù)，10.短路漏電等保護(hù)
型號說明