產(chǎn)品中心
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廣東省東莞市長安鎮(zhèn)烏沙振榮路2號1號樓
兩槽式HAST高壓加速老化箱英文名(2-Zone HAST CHAMBER)用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度,濕度,壓力,的各種條件來完成,用于評估產(chǎn)品密封性、吸濕性及老化性能。
PCT高壓加速老化箱又叫飽和蒸汽高壓壽命試驗箱,英文名High Pressure Cooking Testing Chamber。用于評估電子元器件、PCB、芯片產(chǎn)品等在高溫,高濕,高氣壓條件下對環(huán)境的抵抗能力,通過加速其失效過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間,提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品失效模式。
用于耐濕性評估和強健性測試,目的在于用壓縮濕氣和飽和濕氣環(huán)境下,評估非氣密性封裝固態(tài)元件的抗?jié)裥?。在高壓、高濕條件下加速濕氣滲透(塑封料、芯片鈍化層)或設計變更(芯片、觸電尺寸)與金屬導電層間界面的滲透,從而識別封裝內(nèi)部的失效機制。
用于評估非氣密性封裝IC器件(固態(tài)設備)在高溫高濕條件下的運行可靠性,對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度(偏壓)高加速應力壽命老化試驗。
HAST Chamber又名HAST高壓加速壽命老化試驗箱,用于車規(guī)級芯片,IC封裝,半導體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗,使用于在產(chǎn)品的設計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié),測試其制品的密封性和老化性能。
HAST高壓加速壽命老化箱用于評估電子元器件、PCB、芯片產(chǎn)品等在高溫,高濕,高氣壓條件下對環(huán)境的抵抗能力,通過加速其失效過程,加速因子在幾十到幾百倍之間,此類極端的加速模擬可靠性測試,便于確定產(chǎn)品或器件的極限工作條件,更容易提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品失效模式,并且縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間,為量產(chǎn)驗證贏得時間。